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時代超聲波測厚儀-對壓力容器厚度的超聲測定

日期:2025-05-01 16:56
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摘要: 時代超聲波測厚儀-對壓力容器厚度的超聲測定 1.1 測定范圍 表9-10 缺陷按指示長度分級表 mm 級別 板厚T 15-40 >40~80 Ⅰ ≤10 ≤1/4T Ⅱ ...

                                                時代超聲波測厚儀-對壓力容器厚度的超聲測定

1.1 測定范圍

9-10 缺陷按指示長度分級表 mm

級別

 板厚T

15-40

>40~80

≤10

≤1/4T

≤15

≤1/3T

指未長度大于級者

注:當對接焊縫兩側板厚不同時.以較薄者為準。
   
本章適用于采用數字直讀式超聲波測厚儀或A型脈沖反射式超聲波探傷儀對壓力容器板材、封頭、筒體和接管厚度進行的超聲測定。

1.2 幾種主要材料的聲速范閣
    幾種主要材料的聲速范圍,見表10-1。使用時,如有必要,應對材科進行實際聲速測定。

10 -1 幾種主要材料的聲速 ms

材料名稱

不銹鋼

鑄鐵

縱波聲速

6300

5900

5800

4700

4310

6240

4170

2170

3500~5600

1.3 儀器及探頭
    1.3.1 超聲波測厚儀的精度應達到±(T%十01)mmT為壁厚。
    1.3.2
超聲測厚通常采用直接接觸式單晶直探頭,也可采用帶延遲塊的單晶直探頭和雙晶直探頭。
    1.3.3
高溫試件的壁厚測定需用特殊高溫探頭。

1.4 校正試塊
    1.4.1 試塊的基本要求和尺寸見圖10—1
    1.4.2
測定曲面工件厚度時,應使用同一曲率的試塊,或者對平面試塊加以修正。

1.5 耦合劑
   
應根據被測件的表面狀況及聲阻抗,選用無氣泡、粘度適宜的耦臺劑,如甘油、機油、硅膠、水玻璃和漿糊等。若工件表面粗糙,則應選擇比較稠的耦臺劑。

1.6 儀器校正
    1.6.1 超聲波測厚儀的校正
    a. 采用臺階試塊,分別在厚度接近待測厚度的最大值和待測厚度的最小值(或待測厚度最大值的12)進行校正。
    b.
將探頭置于較厚試塊上,調整聲速校正旋鈕,使測厚儀顯示讀數接近已知值。
    c.
將探頭置于較薄的試塊上,調整零位校正旋紐,使測厚儀顯示讀數接近已知值。
    d.
反復調整,使量程的高低兩端都得到正確讀數,儀器即告調試完畢。
    e.
若已知材料聲速,則可預先調好聲速值,然后在儀器附帶的試塊上,調節零位校正旋鈕,使儀器顯示水為試塊的厚度,儀器即調試完畢。
   
 1.6.2 超聲波探傷儀的校正
    a.1.6.1 a
    b.
探頭置于較厚試塊上,調節儀器掃描范圍旋鈕.直到底面回波出現在相應刻度位置上。
    c.
探頭置于較薄試塊上,調節儀器延遲掃描旋鈕,直到底面回波出現在相應刻度位置上。
    d.
反復調整,直到在厚,薄試塊上的底面回波均出現在正確的刻度位置,儀器即告調整完畢。

1.7 測定準備
   
測定面上存在的浮銹、鱗皮或部分脫離的涂膜應進行清洗,必要時可用砂輪進行適當的修磨。

1.8 測定方法
   
在測定點只進行一次測定的方法,一般適用于單晶直探頭的場合。
    1.8.2 二次測定法
    在用雙晶直探頭測定時,將分割面的方向轉動90°,在同一測定點測兩次的測定方法。測定值以小的數值為準。
    1.8.3 ф30mm多點測定法
    當測定值不穩定時,以一個測定點為中,心在30mm的范圍內進行多點測定。測定值以最小值為HE
   
1.8.4 管子壁厚的測定方法
    單直探頭測定時,應使探頭中心線與管軸中心線相垂直,并通過管鈾中心,使用雙晶直探頭測定時,探頭分割線必須與管軸中心線垂直。

1.9 測定值異常時的處理
    在采用超聲調厚儀測定時.有時會出現異常值,必須進行適當的處理。
   
1.9.1 沒有顯示值
    若工件曲率半徑太小或背面有大量點腐蝕時,測厚儀會沒有顯示值,這時應采用超聲波探傷儀進行輔助測定。
    1.9.2 顯示值為實際厚度的兩倍左右
   
工件壁厚小于3mm,且背面比較光滑.為避免測厚儀的顯示值有時為實際厚度的兩倍,這時應采用小測距探頭或專用探頭。
    1.9.3 顯示值比實際厚度小
   
當存在夾雜、夾層等內部缺陷時,測厚儀顯示值常小于公稱厚度的70%,這時應采用超聲探傷儀對測定點周圍進行檢測,確認是否是受缺陷的影響,探頭可采用直探頭或斜探頭。

1.10 報告
   
報告至少應包括以下內容:
    a.
工件名稱、材質、編號、委托單位;
    b.
儀器型號、探頭、試塊、耦合劑、測定方法;
    G.
測量部位和數據、測量部位草圖、測量數據的最大值和最小值,
    d.
操作人員、校核人員;
    e.
測定日期。

 

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